Professor
Praktikumsbeauftragter ET
Modern Technologies for Level Measurement
In: SENSOR + TEST
Nürnberg
Industrial Level Sensing with Radar
In: Frequenz - Journal of RF-Engineering and Telecommunications vol. 60 pg. 2-5.
Füllstandmessung von Flüssigkeiten und Feststoffen (Schüttgütern) . Level measurement of liquids and solids (bulk solids)
Ausschuss Füllstandmessung der VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik
Intermittierendes FMCW-Radar: Die dritte Generation der Mikrowellen-Füllstandmessung
In: atp edition - Automatisierungstechnische Praxis vol. 43
Flüssigkeits- und Trennschichtmessung mit TDR
In: BASF-Seminar “Moderne Methoden der Füllstandsmesstechnik"
Ludwigshafen
Universal level gauging with radar technology
In: ACHEMA 2000 International Meeting on Chemical Engineering; Environmental Protection and Biotechnology
Frankfurt am Main
Low Power FMCW Radar System for Level Gaging
In: 2000 IEEE MTT-S International Microwave Symposium
Boston, MA, USA
Industrial Tank Level Gauging . Workshop "Millimeter-Wave Sensors"
In: GAAS/European Microwave Conference 99
München
Level Measurement . Kapitel 11
Prozesskontrolle von Tanklägern . Seminar
Haus der Technik Essen
Rechnergestützte Optimierung eines breitbandigen VCO für ein Füllstands-Radarsystem
In: 9. Kongressmesse für Hochfrequenztechnik, Funkkommunikation und elektromagnetische Verträglichkeit (MIOP ’97)
Sindelfingen
Spezielle Auswerteverfahren beim FMCW-Radar zur Füllstandmessung
In: MESSCOMP ‘96
Wiesbaden
Applikationsspezifische Ausführungsformen und Verfahren beim FMCW-Füllstands-Radar
Technische Akademie Esslingen Esslingen
Measuring Process and Storage Tank Level with Radar Technology
In: IEEE International Radar Conference
Alexandria, VA, USA
The hardening techniques for electronic devices and circuits
In: Kerntechnik vol. 56 pg. 29-32.
Irradiation qualification tests on electronic devices and circuits
In: Kerntechnik vol. 56 pg. 157-160.
The effects of radiation on electronic devices and circuits
In: Kerntechnik vol. 55 pg. 261-267.
The Behaviour of MOS Circuits under Nuclear Radiation
In: 18th Yugoslav Conference on Microelectronics MIEL 90
Ljubljana, Slowenien
Schädigung elektronischer Bauteile und Schaltungen unter dem Einfluss radioaktiver Strahlung
In: U.R.S.I.-Tagung
Kleinheubach