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Prof. Dr.-Ing. Detlef Brumbi

  • Grundlagen der Elektrotechnik
  • Grundlagen der Informatik
  • Hochfrequenztechnik
  • Produktion in der Elektrotechnik
  • Qualitätssicherung

Fakultät Elektrotechnik und Medientechnik

Professor:innen

Professor

Praktikumsbeauftragter ET

E 226

0991/3615-543

Sortierung:
Vortrag

  • Detlef Brumbi
  • I. van Zyl

Modern Technologies for Level Measurement

In: SENSOR + TEST

Nürnberg

  • 26.-28.05.2009 (2009)
  • Elektrotechnik und Medientechnik
Zeitschriftenartikel

  • Detlef Brumbi

Industrial Level Sensing with Radar

In: Frequenz - Journal of RF-Engineering and Telecommunications vol. 60 pg. 2-5.

  • (2006)
  • Elektrotechnik und Medientechnik
Internetdokument

  • Detlef Brumbi

Grundlagen der Radartechnik zur Füllstandmessung . 4. Ausgabe

  • (2003)

  • Elektrotechnik und Medientechnik
Monographie

  • Detlef Brumbi
  • et al.

Füllstandmessung von Flüssigkeiten und Feststoffen (Schüttgütern) . Level measurement of liquids and solids (bulk solids)

Ausschuss Füllstandmessung der VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik

  • (2002)
  • Elektrotechnik und Medientechnik
Zeitschriftenartikel

  • Detlef Brumbi

Intermittierendes FMCW-Radar: Die dritte Generation der Mikrowellen-Füllstandmessung

In: atp edition - Automatisierungstechnische Praxis vol. 43

  • (2001)
  • Elektrotechnik und Medientechnik
Vortrag

  • Detlef Brumbi

Flüssigkeits- und Trennschichtmessung mit TDR

In: BASF-Seminar “Moderne Methoden der Füllstandsmesstechnik"

Ludwigshafen

  • 04.12.2001 (2001)
  • Elektrotechnik und Medientechnik
Vortrag

  • Detlef Brumbi

Universal level gauging with radar technology

In: ACHEMA 2000 International Meeting on Chemical Engineering; Environmental Protection and Biotechnology

Frankfurt am Main

  • 22.-27.05.2000 (2000)
  • Elektrotechnik und Medientechnik
Vortrag

  • Detlef Brumbi

Low Power FMCW Radar System for Level Gaging

In: 2000 IEEE MTT-S International Microwave Symposium

Boston, MA, USA

  • 11.-16.06.2000 (2000)
  • Elektrotechnik und Medientechnik
Vortrag

  • Detlef Brumbi

Industrial Tank Level Gauging . Workshop "Millimeter-Wave Sensors"

In: GAAS/European Microwave Conference 99

München

  • 05.10.1999 (1999)
  • Elektrotechnik und Medientechnik
Beitrag in Sammelwerk/Tagungsband

  • Detlef Brumbi
  • et al.

Level Measurement . Kapitel 11

  • (1999)
  • Elektrotechnik und Medientechnik
Vortrag

  • Detlef Brumbi

Prozesskontrolle von Tanklägern . Seminar

Haus der Technik Essen

  • 24.-25.03.1998 (1998)
  • Elektrotechnik und Medientechnik
Vortrag

  • Detlef Brumbi
  • et al.

Rechnergestützte Optimierung eines breitbandigen VCO für ein Füllstands-Radarsystem

In: 9. Kongressmesse für Hochfrequenztechnik, Funkkommunikation und elektromagnetische Verträglichkeit (MIOP ’97)

Sindelfingen

  • 22.-24.04.1997 (1997)
  • Elektrotechnik und Medientechnik
Vortrag

  • Detlef Brumbi

Spezielle Auswerteverfahren beim FMCW-Radar zur Füllstandmessung

In: MESSCOMP ‘96

Wiesbaden

  • 12.09.1996 (1996)
  • Elektrotechnik und Medientechnik
Vortrag

  • Detlef Brumbi

Applikationsspezifische Ausführungsformen und Verfahren beim FMCW-Füllstands-Radar

Technische Akademie Esslingen Esslingen

  • 12.12.1996 (1996)
  • Elektrotechnik und Medientechnik
Vortrag

  • Detlef Brumbi

Measuring Process and Storage Tank Level with Radar Technology

In: IEEE International Radar Conference

Alexandria, VA, USA

  • 08.-11.05.1995 (1995)
  • Elektrotechnik und Medientechnik
Zeitschriftenartikel

  • A. Benemann
  • C.-C. Seifert
  • H.-G. Spillekothen
  • A. Boden
  • D. Braeunig
  • F. Wulf
  • Detlef Brumbi
  • J. Klein
  • J. Schott

The hardening techniques for electronic devices and circuits

In: Kerntechnik vol. 56 pg. 29-32.

  • (1991)
The deleterious effects of radiation on electronic devices and circuits make the hardening against degradation, failure and upset indispensable. Hardening may be accomplished by one or more of several different means, including technological processes, appropriate design of devices and circuits, as well as careful piecepart screening procedures. The various possibilities are outlined and discussed. Special emphasis is put on the authors' investigations on qualified components and circuit designs. A selection of proper physical properties and bias conditions of single components as well as an optimization of circuit layouts can help to minimize radiation damage and thus make electronic devices and circuits more radiation tolerant. (orig.)
  • Elektrotechnik und Medientechnik
Zeitschriftenartikel

  • A. Benemann
  • C.-C. Seifert
  • H.-G. Spillekothen
  • A. Boden
  • D. Braeunig
  • F. Wulf
  • Detlef Brumbi
  • J. Klein
  • J. Schott

Irradiation qualification tests on electronic devices and circuits

In: Kerntechnik vol. 56 pg. 157-160.

  • (1991)
Reliable prediction of the irradiation behavior of electronic devices and circuits cannot be made without qualified irradiation tests. A variety of irradiation facilities for various types of radiation provide for standardized testing. Very accurate dosimetry and comprehensive documentation of the results are mandatory in these tests. A PC-oriented database for storing and retrieving test results is being developed. (orig.)
  • Elektrotechnik und Medientechnik
Zeitschriftenartikel

  • A. Benemann
  • A. Boden
  • D. Bräunig
  • Detlef Brumbi
  • J. Klein
  • J-U. Schott
  • C.-C. Seifert
  • H.-G. Spillekothen
  • F. Wulf

The effects of radiation on electronic devices and circuits

In: Kerntechnik vol. 55 pg. 261-267.

  • (1990)
Radiation damage of semiconductor components constitutes a safety risk for the functioning of circuits when operated in a radiation-exposed environment. Despite the manifold dependences of the radiation damage, fundamental characteristic features are given so that sensitivity graduations of the active component spectrum can be established. A general description of the sensitivity and the most important parameter changes of devices is given by introducing the main damage mechanisms, as displacements of lattice atoms and ionization effects. Recently obtained results from experiments on the radiation susceptibility of charge coupled devices as well as on the influences of single component degradations on circuit behavior are presented.
  • Elektrotechnik und Medientechnik
Vortrag

  • Detlef Brumbi

The Behaviour of MOS Circuits under Nuclear Radiation

In: 18th Yugoslav Conference on Microelectronics MIEL 90

Ljubljana, Slowenien

  • 14.05.1990 (1990)
  • Elektrotechnik und Medientechnik
Vortrag

  • Detlef Brumbi

Schädigung elektronischer Bauteile und Schaltungen unter dem Einfluss radioaktiver Strahlung

In: U.R.S.I.-Tagung

Kleinheubach

  • 02.10.1989 (1989)
  • Elektrotechnik und Medientechnik